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Mettler Toledo* XS超越系列专业型分析天平

  采用高精度、高分辨率后置式传感器,获得准确称量结果。
  全自动校准技术(FACT - 温度漂移触发的天平自动内校,内置两组砝码实现线性误差,校准,确保称量结果的准确性。
  变量程专利设计和双量程设计,满足客户对不同样品的称量需求。

技术参数:

 

 

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